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◆性能特點(diǎn)：
實(shí)現(xiàn)樣品保持不動，探針移動掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡。

樣品尺寸、重量幾乎不受限制，特別適合超大的樣品檢測。

樣品臺可拓展性強(qiáng)，非常便于進(jìn)行多儀器聯(lián)用實(shí)現(xiàn)原位檢測。

電動控制樣品移動臺和升降臺，可任意編程多點(diǎn)位置實(shí)現(xiàn)快速自動化檢測。

龍門架式掃描頭設(shè)計，大理石底座，真空吸附和磁性吸附式載物臺。
馬達(dá)自動控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品。
高倍輔助光學(xué)顯微定位，實(shí)時觀測與定位探針以及樣品掃描區(qū)域。

集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優(yōu)于98%。

◆測量范圍及應(yīng)用：

測量范圍：二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

應(yīng)用：納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復(fù)材、分子篩、TiO2、CrPS4（15）、CrPS4（16）、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。

◆ 應(yīng)用案例 Application Case